Hysitron Triboscope
AFM'nizin Karakterizasyon Yeteneklerini Geliştirin Bruker Hysitron TriboScope®, atomik kuvvet mikroskobu dünyasına niceliksel, rijit -prob nanoindentasyon ve nanotribolojik karakterizasyon özelliklerini sunar. Bu ünite sayesinde AFM cihazınızda gerçek kantitatif nanoindentasyon, aşınma testleri gerçekleştirip, simultane SPM görüntüleri alabilirsiniz. Gerekli opsiyonlar eklendiğinde; çizilme, nanoDMA, modulus haritalaması gibi daha birçok karakterizasyon özelliği AFM cihazına eklenebilir.
TriboScope, test sırasında uygulanan kuvvet ve yer değiştirmenin doğrudan kontrolü ve ölçülmesine izin veren dikey rijit bir prob düzeneğini kullanır.
Hysitron Triboscope Teknik Özellikleri
- Patentli in-situ SPM ölçüm hücresi
- 78kHz, DSP teknolojili, gelişmiş Performech ® kontrol modülü
- Kantitatif ve tekrarlanabilir ölçümler
- MEMS teknolojili RAPIDprobe özelliği
- Maksimum Kuvvet: 10 mN
- Kuvvet Çözünürlüğü: 1 nN
- Maksimum Deplasman: 5 μm
- Hareket Çözünürlüğü: 0.006 nm
TriboScope, araştırmalarınızı yenilikçi test modlarıyla geliştiriyor
Standard Çalışma Modları : Quasi-Static Nanoindentasyon, In-Situ SPM , Scanning Wear
Opsiyonel Çalışma Modları : nanoDMAIII, NanoScratch
TS Serisi Opsiyonlar
