SPARC High-Performance Cathodoluminescence
SPARC sistemi, Polman grubu tarafından AMOLF/ Hollanda araştırma merkezinde geliştirilmiştir. Sistem, katodolüminesans tekniği ile nanofotonik araştırmalarda; hassasiyet ve kullanım kolaylığı ile öne çıkmaktadır. SPARC platformu, modüler yapısı sayesinde;Taramalı Elektron Mikroskop (SEM) sistemlerine kolaylıkla entegre edilebilmektedir.
Sistemin plazmonik araştırmalardaki kullanımını ilgili linkten inceleyebilirsiniz. erbium.nl/arcis.html
Oluşturulan elektron ışını, nano yapıları uyarmak için kullanılır ve sonrasında katodolüminesans detektör üretilen ışığı tespit etmek için kullanılır. Yüksek dedektör hassasiyeti sadece algılama verimliliği için değil, aynı zamanda tüm yeni nanofotonik araştırma çalışmaları ve açı çözünümlü ölçümler (angle resolved measurement ) için de kullanılabilmektedir. Bu yeni dedeksiyon tekniği ile uyarılmış bir yapıdan yayılan ışığın emilen yönleri haritalanabilir. Elektron demeti tarafından oluşturulan ışık, parabolik ayna tarafından yakalanıp SEM sistemi vakum haznesi dışında birleştirilir. Kullanıcı, vakum haznesi dışında; açı çözünümlü ölçüm ile elde olunan 2D görüntü ile spektroskopik görüntü arasında kolaylıkla seçim yapabilir.
SPARC sistemi; modüler dizaynı, eşsiz hassasiyeti ve tekrarlabilirliği aynı platform içerisinde barındırmaktadır.
SPARC Görüntüleme Teknikleri
Spektral Ölçüm
SPARC sisteminde; Spektral Ölçüm modu seçildiğinde; ayna üzerinde toplanan ışık, fiber optik hat üzerinde odaklanarak, Czerny-Turner spektrografına iletilir.
Spektrografa bağlı olan silikon dedektör, 400-900 nm aralığında sonuçları optimize eder. Elektron demeti numune yüzeyini tarayarak Hiperspektral bir görüntü elde edilir.
Açısal Ölçüm
SPARC sistemi; açı çözünümlü ölçümler (angle resolved measurement ) elde etmek için eşsiz bir seçenek sunar. Ayna üzerinde toplanan ışık, fiber optik hat üzerinde odaklama yerine görüntü kamerasına yansıtılır. Bu da yayılan ışığın yön dağılımının tespitini sağlar. Bu ölçüm aynı zamanda Momentum Spektroskopisi olarak adlandırılır. Bu modda, bir filtre diski ile farklı emisyon dalga boylarında spektral ayırt edicilik sağlanır.
Polarizasyon Ölçümü
SPARC sistemi; açı çözünümlü ölçümlerde, polarizör kullanılarak; nanofotonik uygulamalarda ayrı dipol oryantasyonunu ve daha genel bir anlamda, polarizasyon yönleri arasında ayrılmayı saptar.
